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公開日2024-11-01
公報種別公開商標公報
出願番号2024114325
出願日2024-10-24
区分第9類(機械器具)
商品役務精密測定機械器具,理化学機械器具,光学機械器具,電子応用機械器具及びその部品,半導体デバイスの諸特性の測定分析自動調節機械器具,半導体検査装置,その他の測定機械器具,写真機械器具,映画機械器具,表面粗さ測定機械器具,ポータブル表面粗さ測定機械器具,半導体製造用測定機械器具,半導体製造用光学機械器具,電気通信機械器具
出願人株式会社東京精密
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
OCRテキストHAINDYSUKRE
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