特許ウォッチ

公開番号2025008702
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-20
出願番号2023111101
出願日2023-07-06
発明の名称金属組織画像の画像処理方法
出願人大同特殊鋼株式会社
代理人個人
主分類G06T 5/70 20240101AFI20250109BHJP(計算;計数)
要約【課題】金属組織画像中のひげノイズを効果的に除去できる金属組織画像の画像処理方法を提供する。
【解決手段】画像処理方法は、金属組織の結晶粒内を白色画素で、結晶粒界を幅が一画素の黒色画素P1、P2、P3、…で表した細線化処理画像を作成し、当該細線化処理画像中の黒色画素P1につき、これを中心画素として、当該中心画素に隣接する周囲の8画素を一周する方向で黒色画素と白色画素の境界Bが2カ所の場合には前記中心画素(黒色画素P1)を白色画素に変換し、2カ所より多い場合には前記中心画素を黒色画素のまま残すことを繰り返す。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
金属組織の結晶粒内を一の単色画素で、結晶粒界を幅が一画素の他の単色画素で表した細線化処理画像を作成し、当該細線化処理画像中の各前記他の単色画素につき、これを中心画素として、当該中心画素に隣接する周囲の８画素を一周する方向で前記他の単色画素と前記一の単色画素の境界が２カ所の場合には前記中心画素を前記一の単色画素に変換し、２カ所より多い場合には前記中心画素を前記他の単色画素のまま残すことを繰り返す金属組織画像の画像処理方法。
続きを表示（約 160 文字）【請求項２】
前記細線化処理画像の作成に先立って、金属組織画像をグレースケール化し、グレースケール化した処理画像に対して平滑化とヒストグラム平坦化を行った後、所定の輝度閾値を境として前記処理画像の各画素を前記一の単色画素と前記他の単色画素に分ける二値化処理を行う請求項1に記載の金属組織画像の画像処理方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は金属組織画像の画像処理方法に関し、特に金属組織画像内のひげノイズを除去する画像処理方法に関するものである。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
金属組織の結晶粒径の大きさは金属の機械特性に大きな影響があり、線分法等によって結晶粒径の大きさ評価が行われている。この際、金属断面の顕微鏡写真である金属組織画像に平均化や二値化処理を施した処理画像が使用されるが、当該処理画像中に生じたノイズによって正確な評価が阻害されるという問題があった。そこで例えば特許文献１では、処理画像のうち、黒色画素が連続して繋がっている部分は粒界に相当すると判定してそのまま残し、黒色画素が単独で存在している部分は結晶粒の内部の孤立点であると判定してこれを消去する画像処理をさらに行うことが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１５－２１０６４８
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、ノイズの中には、結晶粒と繋がった、いわゆる、ひげノイズ（結晶粒界から延長して結晶粒内に伸びる線状のもの）があり、上記従来の画像処理方法ではこのような、ひげノイズを除去できないため、線分法等によって結晶粒径の大きさを評価する際、正確に結晶粒経を測定できないという問題があった。
【０００５】
そこで、本発明はこのような課題を解決するもので、金属組織画像中のひげノイズを効果的に除去できる金属組織画像の画像処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明では、金属組織の結晶粒内を一の単色画素で、結晶粒界を幅が一画素の他の単色画素で表した細線化処理画像を作成し、当該細線化処理画像中の各前記他の単色画素（Ｐ1，Ｐ4）につき、これを中心画素として、当該中心画素に隣接する周囲の８画素を一周する方向で前記他の単色画素と前記一の単色画素の境界（Ｂ）が２カ所の場合には前記中心画素を前記一の単色画素に変換し、２カ所より多い場合には前記中心画素を前記他の単色画素のまま残すことを繰り返す。このような処理を繰り返すことによって、細線化処理画像中に残ったひげノイズを確実に除去することができる。そして、ひげノイズを除去した処理画像に基づいて結晶粒径の大きさ評価を正確に行うことができる。
【０００７】
なお、前記細線化処理画像の作成に先立って、金属組織画像をグレースケール化し、グレースケール化した処理画像に対して平滑化とヒストグラム平坦化を行った後、所定の輝度閾値を境として前記処理画像の各画素を前記一の単色画素と前記他の単色画素に分ける二値化処理を行うことが好ましい。
【０００８】
上記カッコ内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を参考的に示すものである。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように、本発明の金属組織画像の画像処理方法によれば、金属組織画像中のひげノイズを効果的に除去することができ、これに基づいて結晶粒径の大きさを正確に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
コンピュータにおける処理手順を示すフローチャートである。
金属組織画像の一例を示す図である。
ひげノイズが残った処理画像の一例を示す図である。
ひげノイズが残った、細線化処理後の処理画像の部分拡大図である。
ひげノイズ部を画素レベルまで拡大した図である。
ひげノイズ部の画素処理後の拡大図である。
結晶粒界部を画素レベルまで拡大した図である。
結晶粒界部の画素処理後の拡大図である。
ひげノイズを除去した処理画像の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許