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発行日
2024-02-28
公報種別
意匠公報(S)
登録番号
1764425
登録日
2024-02-19
意匠に係る物品
半導体デバイス検査機
意匠分類
J1
-52(計量器、測定機械器具及び測量機械器具)
出願番号
2023017732
出願日
2023-08-31
意匠権者
株式会社日本マイクロニクス
,
KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
代理人
個人
,
個人
意匠に係る物品の説明
意匠の説明
実線で表した部分が、部分意匠として意匠登録を受けようとする部分である。一点鎖線は、意匠登録を受けようとする部分とその他の部分との境界のみを表す。各図に表された明暗部は、明度差を表すものである。
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