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公開日2025-05-21
公報種別公開国際商標公報
国際登録番号1843467
国際登録日2025-02-11
区分第9類(機械器具)
商品役務Probe-based instruments, namely, scanning probe microscopes including atomic force microscopes.
基礎出願番号98700218
基礎出願日2024-08-15
基礎出願国US
出願人Bruker Nano, Inc.
OCRテキストDIMENSION NEXUS
OCRテキスト2
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