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公開日2025-05-12
公報種別公開国際商標公報
国際登録番号1839376
国際登録日2025-01-08
区分第9類(機械器具)
商品役務Analytical equipment used for material metrology and inspection in the field of semiconductor wafer processing.
基礎出願番号98919987
基礎出願日2024-12-23
基礎出願国US
出願人Applied Materials, Inc.
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