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公開日2025-03-19
公報種別公開国際商標公報
国際登録番号1833506
国際登録日2024-12-10
区分第9類(機械器具)
商品役務Scientific apparatus, namely, a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for semiconductor analysis.
基礎出願番号98592903
基礎出願日2024-06-10
基礎出願国US
出願人FEI Company
OCRテキストACCUKOS
OCRテキスト2ACCUROS
OCRについて
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