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公開日2024-10-30
公報種別公開国際商標公報
国際登録番号1806256
国際登録日2024-07-12
区分第9類(機械器具)
商品役務Inspection tool using an electron beam for inspection of semiconductor materials, devices and products.
基礎出願番号1502655
基礎出願日2024-04-11
基礎出願国BX
出願人ASML Netherlands B.V.
OCRテキストeP5
OCRテキスト2eP5
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