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公開日2024-09-04
公報種別公開国際商標公報
国際登録番号1797288
国際登録日2024-04-30
区分第9類(機械器具)
商品役務Recorded computer software used for running, tracking, and providing feedback for on-tool metrology measurements; recorded computer software used for analysis of big data generated from semiconductor wafer processing and metrology, inspection, and review equipment; recorded computer software for creating machine learning algorithms for analysis of big data generated from semiconductor wafer processing and metrology, inspection, and review equipment.
基礎出願番号98148940
基礎出願日2023-08-24
基礎出願国US
出願人Applied Materials, Inc.
OCRテキストExtractAl
OCRテキスト2ExtractAI
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