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公開番号2025167398
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-07
出願番号2024071958
出願日2024-04-25
発明の名称電圧測定システム
出願人株式会社デンソー,トヨタ自動車株式会社,株式会社ミライズテクノロジーズ
代理人弁理士法人ゆうあい特許事務所
主分類G01R 19/257 20060101AFI20251030BHJP(測定;試験)
要約【課題】第2回路部に供給される電圧が変化することを抑制する。
【解決手段】回路部は、基準電圧に基づく電圧としての第1電圧が供給される第1回路部71、および第1回路部71より高精度な基準電圧に基づく電圧としての第2電圧が供給される第2回路部72を含み、第1回路部71を挟むように接続されて第1回路部71に第1電圧を供給する第1高電位側配線25および第1低電位側配線27と、第2回路部72を挟むように接続されて第2回路部72に第2電圧を供給する第2高電位側配線26および第2低電位側配線28と、を有し、第1高電位側配線25と第2高電位側配線26とは、分離され、第1低電位側配線27と第2低電位側配線28とは、分離されるようにする。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
電圧測定システムであって、
基準電圧を生成する基準電源回路部（１０）と、
前記基準電圧に基づく電圧が印加される回路部（７０）と、を備え、
前記回路部は、前記基準電圧に基づく電圧としての第１電圧が供給される第１回路部（７１）、および前記第１回路部より高精度な前記基準電圧に基づく電圧としての第２電圧が供給される第２回路部（７２）を含み、
前記第１回路部を挟むように接続されて前記第１回路部に前記第１電圧を供給する第１高電位側配線（２５）および第１低電位側配線（２７）と、
前記第２回路部を挟むように接続されて前記第２回路部に前記第２電圧を供給する第２高電位側配線（２６）および第２低電位側配線（２８）と、を有し、
前記第１高電位側配線と前記第２高電位側配線とは、分離され、
前記第１低電位側配線と前記第２低電位側配線とは、分離されている電圧測定システム。
続きを表示（約 820 文字）【請求項２】
前記回路部は、前記第１回路部および前記第２回路部を有するＡＤＣであり、
前記第１回路部は、抵抗分圧回路を含んで構成され、
前記第２回路部は、演算部を含んで構成されている請求項１に記載の電圧測定システム。
【請求項３】
前記ＡＤＣは、複数備えられている請求項２に記載の電圧測定システム。
【請求項４】
前記基準電源回路部は、ツェナーダイオード（１８）を含んで構成され、前記ツェナーダイオードの降伏電圧に基づいて前記基準電圧を生成する請求項１に記載の電圧測定システム。
【請求項５】
第１容量端子（４１）と、
基準電位源（４３）と接続される第２容量端子（４２）と、
前記第１容量端子と前記第２容量端子との間に配置される容量部（５０）と、
前記基準電源回路部と接続されると共に前記第１容量端子と接続される第１端子（３１）と、
前記第２回路部と前記第２高電位側配線を介して接続されると共に前記第１容量端子と接続される第２端子（３２）と、
前記基準電源回路部と接続されると共に前記第２容量端子と接続される第３端子（３３）と、
前記第１回路部と前記第１低電位側配線を介して接続されると共に、前記第２容量端子と接続される第４端子（３４）と、を有し、
前記第２回路部には、前記容量部からＡＣ電流が供給される請求項１ないし４のいずれか１つに記載の電圧測定システム。
【請求項６】
前記第２低電位側配線は、前記第２回路部と接続されると共に前記第４端子と接続されている請求項５に記載の電圧測定システム。
【請求項７】
前記第２低電位側配線は、前記第２回路部と接続されると共に、前記第３端子と前記基準電源回路部とを接続する配線（２２）と接続されている請求項５に記載の電圧測定システム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、電圧測定システムに関するものである。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
従来より、基準電源回路部で生成された電圧を他の回路部に供給する電圧測定システムが提案されている（例えば、非特許文献１参照）。例えば、この電圧測定システムでは、基準電源回路部で生成された電圧を回路部としてのＡＤＣ（Analog digital converterの略）に供給する構成が提案されている。なお、このＡＤＣは、ＤＣ電流が供給される抵抗分圧回路部等を有する第１回路部や、ＡＣ電流が供給されるＤＡＣ等を有する第２回路部等を備え、第２回路部に演算をするための機能が含まれている。そして、この電圧測定システムでは、基準電源回路部と、ＡＤＣの第１回路部および第２回路部とが共通の配線で接続されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
ＲＥＦ６２ｘｘ高精度電圧リファレンス、内臓ＡＤＣドライブ・バッファ付 Texas INSTRUMENTS ２０１６年９月
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、ＡＤＣの重要特性である線形性は、第２回路部（すなわち、ＤＡＣ）に供給される電圧誤差の影響を受け易く、第２回路部に供給される電圧が変化すると精度が低下する。このため、ＡＤＣの第２回路部には、第１回路部に供給される電圧よりも高精度な電圧が供給されることが望まれる。
【０００５】
しかしながら、上記の電圧測定システムでは、基準電源回路部と、ＡＤＣの第１回路部および第２回路部が共通の配線で接続されている。このため、上記の電圧測定システムでは、第１回路部へ供給されるＤＣ電流による配線抵抗ドロップ（すなわち、電圧降下）により、ＡＣ電流を負荷とする第２回路部に供給される電圧に誤差が発生する可能性がある。この場合、予め検査等を行って配線抵抗ドロップの影響を低減する補正を行うことも考えられるが、検査後にＤＣ電流が変化した場合等には補正が困難となる。
【０００６】
本開示は、第２回路部に供給される電圧が変化することを抑制できる電圧測定システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の１つの観点によれば、電圧測定システムは、基準電圧を生成する基準電源回路部（１０）と、基準電圧に基づく電圧が印加される回路部（７０）と、を備え、回路部は、基準電圧に基づく電圧としての第１電圧が供給される第１回路部（７１）、および第１回路部より高精度な基準電圧に基づく電圧としての第２電圧が供給される第２回路部（７２）を含み、第１回路部を挟むように接続されて第１回路部に第１電圧を供給する第１高電位側配線（２５）および第１低電位側配線（２７）と、第２回路部を挟むように接続されて第２回路部に第２電圧を供給する第２高電位側配線（２６）および第２低電位側配線（２８）と、を有し、第１高電位側配線と第２高電位側配線とは、分離され、第１低電位側配線と第２低電位側配線とは、分離されている。
【０００８】
これによれば、第１高電位側配線と第２高電位側配線とが分離して配置され、第１低電位側配線と第２低電位側配線とが分離して配置されている。このため、第２回路部には、第１回路部に流れる電流の配線ドロップの影響を低減した第２電圧が供給され、第２回路部に供給される第２電圧が第１回路部に流れる電流によって変化することを抑制できる。
【０００９】
なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
第１実施形態における電圧測定システムを示す模式図である。
図１に示すＡＤＣの模式図である。
第２実施形態における電圧測定システムを示す模式図である。
第３実施形態における電圧測定システムを示す模式図である。
第４実施形態における電圧測定システムを示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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