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公開番号2025099632
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-03
出願番号2023216432
出願日2023-12-22
発明の名称表示装置
出願人エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド
代理人個人,個人,個人,個人,個人
主分類G09G 3/3225 20160101AFI20250626BHJP(教育;暗号方法;表示;広告;シール)
要約【課題】輝度補償の精度を低下させずに、センシング動作の時間を短縮可能な表示装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様による表示装置は、それぞれが複数の副画素を含む複数の画素および前記複数の副画素により共有されるゲート線を有する画素アレイと、前記ゲート線を介して前記複数の副画素にゲート信号を供給するゲート駆動部と、データ線を介して前記複数の副画素のそれぞれにデータ信号を供給するデータ駆動部と、前記画素に含まれる前記複数の副画素から、前記副画素の劣化情報に基づきいずれかの副画素を選択し、選択された副画素に前記データ信号を前記データ駆動部から供給する制御部と、前記選択された副画素の特性を取得する補償部とを含む。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項1】
それぞれが複数の副画素を含む複数の画素および前記複数の副画素により共有されるゲート線を有する画素アレイと、
前記ゲート線を介して前記複数の副画素にゲート信号を供給するゲート駆動部と、
データ線を介して前記複数の副画素のそれぞれにデータ信号を供給するデータ駆動部と、
前記画素に含まれる前記複数の副画素から、前記副画素の劣化情報に基づきいずれかの副画素を選択し、選択された副画素に前記データ信号を前記データ駆動部から供給する制御部と、
前記選択された副画素の特性を取得する補償部とを含む、
表示装置。
続きを表示(約 970 文字)【請求項2】
前記劣化情報は、前記副画素に供給されたその時点までのデータ信号を所定の計算式に基づき合計して得られる累積データである、
請求項1に記載の表示装置。
【請求項3】
複数の前記画素のそれぞれは、選択されていない第1副画素と選択された第2副画素とを含み、
前記補償部は、一の画素の前記第1副画素の前記累積データと他の画素の前記第2副画素から取得された前記特性とに基づき前記一の画素の前記第1副画素の前記特性を推定する、
請求項2に記載の表示装置。
【請求項4】
前記一の画素の前記第1副画素は、前記他の画素の前記第2副画素と同一の発光色を有する、
請求項3に記載の表示装置。
【請求項5】
前記補償部は、複数の前記他の画素の中で前記第1副画素に最も近い前記他の画素の前記第2副画素の特性に基づき、前記一の画素の前記第1副画素の前記特性を推定する、
請求項4に記載の表示装置。
【請求項6】
前記補償部は、さらに前記第2副画素から取得された前記特性に基づき、前記第1副画素の前記特性を推定する、
請求項5に記載の表示装置。
【請求項7】
前記補償部は、さらに前記第1副画素から前記第2副画素までの距離に応じて前記第1副画素の前記特性を推定する、
請求項6に記載の表示装置。
【請求項8】
前記制御部は、前記累積データに基づき前記複数の副画素から劣化の最も大きいと推定された前記副画素を選択する、
請求項2に記載の表示装置。
【請求項9】
前記補償部は前記複数の副画素のうちの2つの副画素から前記特性を取得する、
請求項8に記載の表示装置。
【請求項10】
前記複数の副画素は第1発光色、第2発光色を有し、
前記劣化の最も大きい副画素が前記第1発光色または前記第2発光色を有しない場合に、前記制御部は、前記第1発光色を有する副画素の前記累積データおよび前記第2発光色を有する副画素の前記累積データを比較し、より劣化の大きい副画素を選択する、
請求項9に記載の表示装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は表示装置に関する。
続きを表示(約 1,200 文字)【背景技術】
【0002】
有機ELディスプレイ等の表示装置は、画素の劣化などに起因する輝度の変動を補償するために周期的に画素の特性値のセンシングを行っている。
【0003】
特許文献1には、ゲート線及び基準線を共有する各画素内の副画素のそれぞれから駆動トランジスタの特性値をセンシングする表示装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
韓国公開特許第10-2018-0130207号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
副画素によってゲート線及び基準線が共有される場合、当該副画素を同時にセンシングすることができない。よって副画素間の輝度を補償するために長時間のセンシング動作が必要となり得る。
【0006】
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであって、輝度補償の精度を低下させずに、センシング動作の時間を短縮可能な表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一観点によれば、それぞれが複数の副画素を含む複数の画素および前記複数の副画素により共有されるゲート線を有する画素アレイと、前記ゲート線を介して前記複数の副画素にゲート信号を供給するゲート駆動部と、データ線を介して前記複数の副画素のそれぞれにデータ信号を供給するデータ駆動部と、前記画素に含まれる前記複数の副画素から、前記副画素の劣化情報に基づきいずれかの副画素を選択し、選択された副画素に前記データ信号を前記データ駆動部から供給する制御部と、前記選択された副画素の特性を取得する補償部とを含む表示装置が提供される。
【発明の効果】
【0008】
本発明によれば、副画素間の輝度補償の精度を低下させずに、センシング動作の時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
第1実施形態における表示装置の概略構成を示すブロック図である。
第1実施形態における表示装置に含まれる画素の特性をセンシングするための動作を示す図である。
第1実施形態における補償部の概略構成を示すブロック図である。
第1実施形態における制御部がセンシングの対象となる副画素を選択する処理の一例を示す図である。
第1実施形態における表示装置により実行される工程を示すフローチャートである。
第2実施形態における制御部がセンシングされる副画素を選択する処理の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明に係る実施形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。各図面を通じて共通する機能を有する要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略または簡略化することがある。
(【0011】以降は省略されています)

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