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公開番号2025091059
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-18
出願番号2023206029
出願日2023-12-06
発明の名称配線回路基板、及び配線回路基板の製造方法
出願人日東電工株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類H05K 3/34 20060101AFI20250611BHJP(他に分類されない電気技術)
要約【課題】 端子部の脆化部分を減らすことで接続信頼性の低下を抑えることができる回路接続基板などの提供。
【解決手段】 第一絶縁層と、前記第一絶縁層上に配された導体層と、前記導体層上に配され開口部を有する第二絶縁層とを有する配線回路基板であって、
前記第一絶縁層と前記第二絶縁層との間にあって、前記開口部によって外部に露出した端子部を有し、
前記端子部が、前記導体層の一部である接続層と、前記接続層上に配されたバリア層と、前記バリア層上に配された外部接続層とを有し、
前記外部接続層が、銅を含む、
配線回路基板。
【選択図】図1


特許請求の範囲【請求項1】
第一絶縁層と、前記第一絶縁層上に配された導体層と、前記導体層上に配され開口部を有する第二絶縁層とを有する配線回路基板であって、
前記第一絶縁層と前記第二絶縁層との間にあって、前記開口部によって外部に露出した端子部を有し、
前記端子部が、前記導体層の一部である接続層と、前記接続層上に配されたバリア層と、前記バリア層上に配された外部接続層とを有し、
前記外部接続層が、銅を含む、
配線回路基板。
続きを表示(約 720 文字)【請求項2】
前記バリア層が、クロム、チタン、及びタングステンの少なくともいずれかを含む、請求項1に記載の配線回路基板。
【請求項3】
前記導体層が、前記接続層の他に配線を有する配線層である、請求項1に記載の配線回路基板。
【請求項4】
更に、金属コア層を、前記第一絶縁層の前記導体層側と反対側の面上に有する、請求項1に記載の配線回路基板。
【請求項5】
更に、第三絶縁層を、前記金属コア層の前記第一絶縁層側と反対側の面上に有する、請求項4に記載の配線回路基板。
【請求項6】
前記外部接続層の厚みが、10μm以下である、請求項1に記載の配線回路基板。
【請求項7】
前記バリア層の厚みが、1μm以下である、請求項1に記載の配線回路基板。
【請求項8】
請求項1から7のいずれかに記載の配線回路基板を含む半導体パッケージ。
【請求項9】
請求項8に記載の半導体パッケージを含む電子機器。
【請求項10】
請求項1から7のいずれかに記載の配線回路基板を製造する、配線回路基板の製造方法であって、
第一絶縁層上に形成された導体層上に、バリア層前駆体を形成する工程と、
前記バリア層前駆体をシード層として、前記導体層の一部である接続層上にあってバリア層に相当する前記バリア層前駆体の一部の上に、電解メッキにより外部接続層を形成する工程と、
前記バリア層となる部分以外の前記バリア層前駆体を除去する工程と、
を含む、配線回路基板の製造方法。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、配線回路基板、及び配線回路基板の製造方法、並びに配線回路基板を含む半導体パッケージ、及び電子機器に関する。
続きを表示(約 3,500 文字)【背景技術】
【0002】
配線回路基板は、配線などの導体部及び各種の絶縁層が基材上において積層形成されて、製造される。導体部及び絶縁層は、例えばフォトリソグラフィ法によって、パターン形成される。
【0003】
配線回路基板として、例えば、第1絶縁層と、端子と、前記端子の厚み方向一方側に配置される第2絶縁層と、前記端子と厚み方向と交差する方向に連続する配線とを備え、前記第1絶縁層は、厚み方向に貫通し、厚み方向一方側に向かうに従って開口断面積が広がる開口部を有し、前記端子は、前記開口部を形成する前記第1絶縁層の内側面に接触する周縁部と、前記周縁部の内側に、前記周縁部と一体的に配置される中実部とを有し、前記周縁部および前記中実部は、前記開口部の全部を充填している、配線回路基板が提案されている(特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2018-190950号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
配線回路基板は、例えば、BGA(ball grid array)などと接続される。その際、配線回路基板の端子部が半田ボールと接続される。配線回路基板の端子部と半田ボールとの接続では、異種金属による接続に起因して端子部が脆くなるという問題がある。端子部が脆くなると接続信頼性が低下する。
【0006】
本発明は、端子部の脆化部分を減らすことで接続信頼性の低下を抑えることができる回路接続基板、並びに当該配線回路基板を含む半導体パッケージ、及び電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明者らは、上記の課題を解決する為、鋭意検討を行った結果、上記の課題を解決出来ることを見出し、以下の要旨を有する本発明を完成させた。
すなわち、本発明は以下を包含する。
【0008】
[1] 第一絶縁層と、前記第一絶縁層上に配された導体層と、前記導体層上に配され開口部を有する第二絶縁層とを有する配線回路基板であって、
前記第一絶縁層と前記第二絶縁層との間にあって、前記開口部によって外部に露出した端子部を有し、
前記端子部が、前記導体層の一部である接続層と、前記接続層上に配されたバリア層と、前記バリア層上に配された外部接続層とを有し、
前記外部接続層が、銅を含む、
配線回路基板。
[2] 前記バリア層が、クロム、チタン、及びタングステンの少なくともいずれかを含む、[1]に記載の配線回路基板。
[3] 前記導体層が、前記接続層の他に配線を有する配線層である、[1]又は[2]に記載の配線回路基板。
[4] 更に、金属コア層を、前記第一絶縁層の前記導体層側と反対側の面上に有する、[1]から[3]のいずれかに記載の配線回路基板。
[5] 更に、第三絶縁層を、前記金属コア層の前記第一絶縁層側と反対側の面上に有する、[4]に記載の配線回路基板。
[6] 前記外部接続層の厚みが、10μm以下である、[1]から[5]のいずれかに記載の配線回路基板。
[7] 前記バリア層の厚みが、1μm以下である、[1]から[6]のいずれかに記載の配線回路基板。
[8] [1]から[7]のいずれかに記載の配線回路基板を含む半導体パッケージ。
[9] [8]に記載の半導体パッケージを含む電子機器。
[10] [1]から[7]のいずれかに記載の配線回路基板を製造する、配線回路基板の製造方法であって、
第一絶縁層上に形成された導体層上に、バリア層前駆体を形成する工程と、
前記バリア層前駆体をシード層として、前記導体層の一部である接続層上にあってバリア層に相当する前記バリア層前駆体の一部の上に、電解メッキにより外部接続層を形成する工程と、
前記バリア層となる部分以外の前記バリア層前駆体を除去する工程と、
を含む、配線回路基板の製造方法。
[11] 前記外部接続層が開口部から露出するように、前記開口部を有する第三絶縁層を形成する工程を更に含む、[10]に記載の配線回路基板の製造方法。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、端子部の脆化部分を減らすことで接続信頼性の低下を抑えることができる回路接続基板、並びに当該配線回路基板を含む半導体パッケージ、及び電子機器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
図1は、配線回路基板の一実施形態の概略図である。
図2は、配線回路基板の他の一実施形態の概略図である。
図3Aは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その1)。
図3Bは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その2)。
図3Cは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その3)。
図3Dは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その4)。
図3Eは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その5)。
図3Fは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その6)。
図3Gは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その7)。
図3Hは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その8)。
図3Iは、配線回路基板の製造方法の一実施形態を説明するための概略図である(その9)。
図4は、配線回路基板の他の一実施形態の概略図である。
図5Aは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その1)。
図5Bは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その2)。
図5Cは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その3)。
図5Dは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その4)。
図5Eは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その5)。
図5Fは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その6)。
図5Gは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その7)。
図5Hは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その8)。
図5Iは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その9)。
図5Jは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その10)。
図5Kは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その11)。
図6は、配線回路基板の他の一実施形態の概略図である。
図7Aは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その1)。
図7Bは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その2)。
図7Cは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その3)。
図7Dは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その4)。
図7Eは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その5)。
図7Fは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その6)。
図7Gは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その7)。
図7Hは、配線回路基板の製造方法の他の一実施形態を説明するための概略図である(その8)。
図8は、配線回路基板の他の一実施形態の概略図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)

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