TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
公開番号
2025016810
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-05
出願番号
2021200780
出願日
2021-12-10
発明の名称
電子機器および解析方法
出願人
学校法人東京理科大学
,
株式会社村田製作所
代理人
弁理士法人つばさ国際特許事務所
主分類
G01R
31/392 20190101AFI20250129BHJP(測定;試験)
要約
【課題】様々な劣化モードによる劣化の解析を行うことの可能な電子機器および解析方法を提供する。
【解決手段】本技術の一側面に係る電子機器は、計測部と、記憶部と、算出部と、解析部とを備えている。計測部は、複数の単電池を含んで構成された組電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、組電池に含まれる複数の単電池の電圧および電流を計測する。記憶部は、計測部での計測により得られた電圧値および電流値を記憶する。算出部は、記憶部に記憶された電圧値および電流値を用いて単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を前記単電池ごとに算出する。解析部は、複数の単電池における2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
複数の単電池を含んで構成された組電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、前記組電池に含まれる前記複数の単電池の電圧および電流を計測する計測部と、
前記計測部での計測により得られた電圧値および電流値を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された前記電圧値および前記電流値を用いて前記単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を前記単電池ごとに算出する算出部と、
前記複数の単電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解析部と
を備えた
電子機器。
続きを表示(約 1,200 文字)
【請求項2】
単電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、前記単電池の電圧および電流を計測する計測部と、
前記計測部での計測により得られた電圧値および電流値を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された前記電圧値および前記電流値を用いて前記単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を算出する算出部と、
複数の正常電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解析部と
を備えた
電子機器。
【請求項3】
前記多変量解析の手法は、マハラノビス・タグチ法である
請求項1または請求項2に記載の電子機器。
【請求項4】
前記多変量解析の手法は、ワンクラス・サポートベクターマシン法である
請求項1または請求項2に記載の電子機器。
【請求項5】
前記2つ以上の回路定数には、電気二重層容量が含まれる
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項6】
前記2つ以上の回路定数には、電荷移動抵抗が含まれる
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項7】
複数の単電池を含んで構成された組電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、前記組電池に含まれる前記複数の単電池の電圧および電流を計測する計測工程と、
前記計測工程で得られた電圧値および電流値を記憶する記憶工程と、
前記記憶工程で記憶された前記電圧値および前記電流値を用いて前記単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を前記単電池ごとに算出する算出工程と、
前記複数の単電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解析工程と
を含む
解析方法。
【請求項8】
単電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、前記単電池の電圧および電流を計測する計測工程と、
前記計測工程で得られた電圧値および電流値を記憶する記憶工程と、
前記記憶工程で記憶された前記電圧値および前記電流値を用いて前記単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を算出する算出工程と、
複数の正常電池における前記2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解工程と
を含む
解析方法。
【請求項9】
前記多変量解析の手法は、マハラノビス・タグチ法である
請求項7または請求項8に記載の解析方法。
【請求項10】
前記多変量解析の手法は、ワンクラス・サポートベクターマシン法である
請求項7または請求項8に記載の解析方法。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本技術は、電子機器および解析方法に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)
【背景技術】
【0002】
二次電池の使用用途は近年、電気自動車やエネルギー貯蔵システムなど、より規模の大きな機器へと拡がってきている。規模が大きくなるほど発火した際の被害も大きくなることから、安全性を高める技術開発の重要性が高まってきている。その上で、二次電池の異常な挙動や劣化を使用中に適切に把握することが重要となる。
【0003】
特許文献1では、二次電池の劣化の判断に用いる回路定数として内部抵抗が着目されている。特許文献1では、CCCV充電におけるCV充電の際中にクーロンカウンティングが行われ、その充電電気量に基づいて内部抵抗が高精度に算出される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2004-152755号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、特許文献1に記載の方法では、求められる回路定数が内部抵抗1つのみであり、二次電池の劣化現象を多面的に表現することができないので、二次電池の劣化の判断法としては不十分である。従って、様々な劣化モードによる劣化の解析を行うことの可能な、複数の回路定数を取り扱うことのできる電子機器および解析方法を提供することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本技術の第1の側面に係る電子機器は、計測部と、記憶部と、算出部と、解析部とを備えている。計測部は、複数の単電池を含んで構成された組電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、組電池に含まれる複数の単電池の電圧および電流を計測する。記憶部は、計測部での計測により得られた電圧値および電流値を記憶する。算出部は、記憶部に記憶された電圧値および電流値を用いて単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を前記単電池ごとに算出する。解析部は、複数の単電池における2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う。
【0007】
本技術の第2の側面に係る電子機器は、計測部と、記憶部と、算出部と、解析部とを備えている。計測部は、単電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、単電池の電圧および電流を計測する。記憶部は、計測部での計測により得られた電圧値および電流値を記憶する。算出部は、記憶部に記憶された電圧値および電流値を用いて単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を算出する。解析部は、複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う。
【0008】
本技術の第3の側面に係る解析方法は、以下の4つの工程を含む。
(A)複数の単電池を含んで構成された組電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、組電池に含まれる複数の単電池の電圧および電流を計測する計測工程
(B)計測工程で得られた電圧値および電流値を記憶する記憶工程
(C)記憶工程で記憶された電圧値および電流値を用いて単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を単電池ごとに算出する算出工程
(D)複数の単電池における2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解工程
【0009】
本技術の第4の側面に係る解析方法は、以下の4つの工程を含む。
(A)単電池の充電もしくは放電の最中および実施後のそれぞれで、単電池の電圧および電流を計測する計測工程
(B)計測工程で得られた電圧値および電流値を記憶する記憶工程
(C)記憶工程で記憶された電圧値および電流値を用いて単電池の等価回路の2つ以上の回路定数を算出する算出工程
(D)複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行う解工程
【発明の効果】
【0010】
本技術の第1の側面に係る電子機器および本技術の第3の側面に係る解析方法によれば、複数の単電池における2つ以上の回路定数の分布情報、または、複数の正常電池における2つ以上の回路定数の分布情報を用いて多変量解析を行うようにしたので、様々な劣化モードによる二次電池の劣化の解析を行うことが可能である。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
他の特許を見る