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公開番号2024157346
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-11-07
出願番号2023071658
出願日2023-04-25
発明の名称印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラム
出願人株式会社リコー
代理人個人,個人
主分類B41J 29/393 20060101AFI20241030BHJP(印刷;線画機;タイプライター;スタンプ)
要約【課題】印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、欠陥検知できない欠陥を低減する。
【解決手段】印刷検査装置は、印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、を有する。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、
を有する、印刷検査装置。
続きを表示（約 860 文字）【請求項２】
前記欠陥検査部は、前記複数の濃度しきい値で欠陥判定した欠陥に対して、前記複数の大きさしきい値でさらに欠陥判定を行う、請求項１に記載の印刷検査装置。
【請求項３】
前記欠陥検査部は、前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値とを用いて欠陥判定した欠陥画素の和に基づいて、前記印刷物の欠陥を検査する、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。
【請求項４】
前記複数の濃度しきい値は、前記大きさしきい値によって異なる、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。
【請求項５】
前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せであるしきい値セットを複数有する、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。
【請求項６】
複数の前記しきい値セットから、一のしきい値セットを選択するＵＩ画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、請求項５に記載の印刷検査装置。
【請求項７】
複数の欠陥を含むテストチャートの印刷を制御し、前記複数の欠陥のうち、前記一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を生成する確認制御部を有し、
前記表示制御部は、前記確認画像を前記ＵＩ画面に表示する、
請求項６に記載の印刷検査装置。
【請求項８】
前記テストチャートは、前記複数の欠陥をＸＹ平面に配置し、
前記複数の欠陥は、前記ＸＹ平面のＸ方向とＹ方向に対して、欠陥の大きさ又は濃度が異なるように配置されている、
請求項７に記載の印刷検査装置。
【請求項９】
前記しきい値セットを設定する設定画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、請求項５に記載の印刷検査装置。
【請求項１０】
前記設定画面は、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する前記複数の濃度しきい値を入力する入力欄を含む、請求項９に記載の印刷検査装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
印刷装置が印刷した印刷物を読み取り、印刷物の読み取り結果から印刷が正常に行われているかを検査する印刷検査装置がある。
【０００３】
例えば、画素に対する濃度の差分の閾値である濃度差分閾値と、濃度差分閾値を超える画素群に対する画素数の閾値である面積閾値とで構成されるしきい値情報に基づいて、印刷物の欠陥を検査する画像検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に開示された技術では、濃度に関するしきい値と大きさに関するしきい値との組合せにより印刷物の欠陥を検査しているが、欠陥の濃度又は大きさによって、検知できない欠陥があるという問題がある。
【０００５】
本発明の一実施形態は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、欠陥検知できない欠陥を低減する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するため、本発明の一実施形態に係る印刷検査装置は、印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、を有する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の一実施形態によれば、印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、検知できない欠陥を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
一実施形態に係る印刷システムのシステム構成の例を示す図である。
一実施形態に係るコンピュータのハードウェア構成の例を示す図である。
一実施形態に係る印刷システムの機能構成の例を示す図である。
一実施形態に係るジョブ情報の例を示す図である。
第１の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。
第１の実施形態に係る点状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。
第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（１）である。
第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（２）である。
第１の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。
第１の実施形態に係る点状欠陥のテストチャートの例を示す図である。
第１の実施形態に係る欠陥判定結果の変化のイメージを示す図である。
第１の実施形態に係る確認画像の例を示す図である。
第１の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。
第２の実施形態に係るアスペクト比について説明するための図である。
第２の実施形態に係る線状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。
第２の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。
第２の実施形態に係る欠陥種別ごとの欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。
第２の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。
第２の実施形態に係る縦線状欠陥のテストチャートの例を示す図である。
第２の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。
第３の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態（本実施形態）について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１０】
＜システム構成＞
図１は、一実施形態に係る印刷システムのシステム構成の例を示す図である。印刷システム１は、一例として、図１に示すように、ＤＦＥ（Digital Front End）１００、印刷装置１１０、印刷検査装置１２０、及びスタッカ１３０等を含む。
（【００１１】以降は省略されています）

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