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公開番号2024154324
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-10-30
出願番号2023068123
出願日2023-04-18
発明の名称画像処理装置、画像読取装置、画像形成装置および画像処理方法
出願人株式会社リコー
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類H04N 1/04 20060101AFI20241023BHJP(電気通信技術)
要約【課題】ダメージのある原稿に対してもエッジの検知精度を向上する。
【解決手段】撮像手段から出力される原稿の読取画像中の原稿背景領域と原稿領域とのエッジ点の集合である第一エッジ点群を検出する第一エッジ点群検出部と、前記第一エッジ点群内の複数のエッジ点から特徴量を算出して、エッジ点特徴量群を構成するエッジ点特徴量算出部と、前記エッジ点特徴量群から各エッジ点の特徴量の分布を算出し、最大分布の特徴量を算出する分布算出部と、前記分布算出部で算出した最大分布となる特徴量の範囲を用いて、前記第一エッジ点群から最大分布のエッジ点を選択して第二エッジ点群を選択するエッジ点選択部と、第二エッジ点群に近似するエッジ直線を算出するエッジ直線算出部と、を備える。
【選択図】図6
特許請求の範囲【請求項１】
撮像手段から出力される原稿の読取画像中の原稿背景領域と原稿領域とのエッジ点の集合である第一エッジ点群を検出する第一エッジ点群検出部と、
前記第一エッジ点群内の複数のエッジ点から特徴量を算出して、エッジ点特徴量群を構成するエッジ点特徴量算出部と、
前記エッジ点特徴量群から各エッジ点の特徴量の分布を算出し、最大分布の特徴量を算出する分布算出部と、
前記分布算出部で算出した最大分布となる特徴量の範囲を用いて、前記第一エッジ点群から最大分布のエッジ点を選択して第二エッジ点群を選択するエッジ点選択部と、
第二エッジ点群に近似するエッジ直線を算出するエッジ直線算出部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
続きを表示（約 990 文字）【請求項２】
前記エッジ点特徴量算出部は、連続する２点間の傾きを、特徴量として算出する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記エッジ点特徴量算出部は、連続する２点間の傾きおよびＹ切片を、特徴量として算出する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記分布算出部は、階級の幅または範囲を複数用いて特徴量の分布を算出する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記エッジ直線算出部によるエッジ直線算出結果に基づき、原稿をスキュー補正するスキュー補正部をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記エッジ直線算出部によるエッジ直線算出結果に基づき、原稿レジストを補正するレジスト補正部をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項７】
背景部材が背景となる撮像位置で原稿を撮像する撮像手段と、
請求項１ないし６のいずれか一項に記載の画像処理装置と、
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項８】
請求項１ないし６の何れか一項に記載の画像処理装置と、
前記画像処理装置により処理した画像を形成する画像形成部と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項９】
撮像手段から出力される原稿の読取画像中の原稿背景領域と原稿領域とのエッジ点の集合である第一エッジ点群を検出する第一エッジ点群検出ステップと、
前記第一エッジ点群内の複数のエッジ点から特徴量を算出して、エッジ点特徴量群を構成するエッジ点特徴量群算出ステップと、
前記エッジ点特徴量群から各エッジ点の特徴量の分布を算出し、最大分布の特徴量を算出する分布算出ステップと、
前記分布算出ステップで算出した最大分布となる特徴量の範囲を用いて、前記第一エッジ点群から最大分布のエッジ点を選択して第二エッジ点群を選択するエッジ点選択ステップと、
第二エッジ点群に近似するエッジ直線を算出するエッジ直線算出ステップと、
を含むことを特徴とする画像処理方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像読取装置、画像形成装置および画像処理方法に関する。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、自動原稿送り装置（ＡＤＦ：Auto Document Feeder）の読取画像から検知したスキュー角度やレジスト位置に基づいて、ＡＤＦ読取時の原稿スキューおよび主副レジストずれを画像処理にて補正するエレキスキュー補正技術が知られている。
【０００３】
特許文献１には、スキュー補正における原稿のエッジ検知精度を上げることを目的とし、副走査方向位置の中央値から大きく離れている点はノイズとして排除して原稿エッジの検出を行う技術が開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、近年においては、波打ち、折れ、カールなどのダメージのある原稿であっても、正しく原稿エッジを検出することが望まれている。
【０００５】
しかしながら、特許文献１に開示の技術によれば副走査方向座標の中央値から離れた点を取り除いて直線式算出用のエッジ点を抽出するが、波打ち、折れ、カールなどのダメージ部分のエッジ点も直線式算出に使われてしまうため、エッジ直線に誤差を生じることになる。
【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ダメージのある原稿に対してもエッジの検知精度を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、撮像手段から出力される原稿の読取画像中の原稿背景領域と原稿領域とのエッジ点の集合である第一エッジ点群を検出する第一エッジ点群検出部と、前記第一エッジ点群内の複数のエッジ点から特徴量を算出して、エッジ点特徴量群を構成するエッジ点特徴量算出部と、前記エッジ点特徴量群から各エッジ点の特徴量の分布を算出し、最大分布の特徴量を算出する分布算出部と、前記分布算出部で算出した最大分布となる特徴量の範囲を用いて、前記第一エッジ点群から最大分布のエッジ点を選択して第二エッジ点群を選択するエッジ点選択部と、第二エッジ点群に近似するエッジ直線を算出するエッジ直線算出部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、ダメージのある原稿に対してもエッジの検知精度を向上することができる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
図１は、第１の実施の形態にかかる画像形成装置の概略構成を模式的に示す断面図である。
図２は、スキャナの概略構成を模式的に示す断面図である。
図３は、ＡＤＦの概略構成を模式的に示す断面図である。
図４は、原稿の読取位置近傍の構成を模式的に示す図である。
図５は、画像形成装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
図６は、画像処理部の機能を示すブロック図である。
図７は、エッジ直線算出処理の流れを示すフローチャートである。
図８は、エッジ点の検出例を示す図である。
図９は、エッジ点の特徴量の算出例を示す図である。
図１０は、各エッジ点の傾き例を示す図である。
図１１は、各エッジ点の特徴量の分布例を示す図である。
図１２は、選択したエッジ点の例を示す図である。
図１３は、第２の実施の形態にかかる第一エッジ点群検出部におけるエッジ点の検出例を示す図である。
図１４は、各エッジ点の複数の特徴量の分布例を示す図である。
図１５は、第３の実施の形態にかかる分布算出部における各エッジ点の特徴量分布の算出例を示す図である。
図１６は、波打ちによるダメージがある原稿の一例を示す図である。
図１７は、第４の実施の形態にかかる画像処理部の機能を示すブロック図である。
図１８は、エッジ直線算出処理およびスキュー補正処理の流れを示すフローチャートである。
図１９は、第５の実施の形態にかかる画像処理部の機能を示すブロック図である。
図２０は、エッジ直線算出処理およびレジスト補正処理の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に添付図面を参照して、画像処理装置、画像読取装置、画像形成装置および画像処理方法の実施の形態を詳細に説明する。
（【００１１】以降は省略されています）

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