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公開番号
2024115377
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-08-26
出願番号
2023021043
出願日
2023-02-14
発明の名称
半導体装置
出願人
株式会社東芝
,
東芝デバイス&ストレージ株式会社
代理人
弁理士法人iX
主分類
H01L
29/78 20060101AFI20240819BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】ボディダイオードの順方向電圧を低減可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、第1導電部11と、第2導電部12と、第3導電部13と、絶縁部20と、半導体部30と、を含む。第1導電部から第2導電部への方向は、第1方向Zに沿う。第2導電部から第3導電部への方向は、第1方向と交差する第2方向Xに沿う。絶縁部は、第2導電部と第3導電部との間に設けられた第1絶縁領域20aを含む。半導体部は、第1導電部と第2導電部との間に設けられた第1半導体領域30aと、第2導電部と第1絶縁領域との間に設けられた第2半導体領域30bと、を含む。第2導電部は、第1半導体領域とショットキー接合する第1導電領域12aと、第2半導体領域とショットキー接合する第2導電領域12bと、を含む。半導体部がn形の場合、第1導電領域の仕事関数は、第2導電領域の仕事関数よりも低い。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
第1導電部と、
第2導電部であって、前記第1導電部から前記第2導電部への方向は、第1方向に沿う、前記第2導電部と、
第3導電部であって、前記第2導電部から前記第3導電部への方向は、前記第1方向と交差する第2方向に沿う、前記第3導電部と、
前記第2導電部と前記第3導電部との間に設けられた第1絶縁領域を含む第1絶縁部と、
前記第1導電部と前記第2導電部との間に設けられた第1半導体領域と、前記第2導電部と前記第1絶縁領域との間に設けられた第2半導体領域と、を含む、第1導電形の半導体部と、
を備え、
前記第2導電部は、前記第1半導体領域とショットキー接合する第1導電領域と、前記第2半導体領域とショットキー接合する第2導電領域と、を含み、
前記第1導電形がn形の場合、前記第1導電領域の仕事関数は、前記第2導電領域の仕事関数よりも低く、
前記第1導電形がp形の場合、前記第1導電領域の仕事関数は、前記第2導電領域の仕事関数よりも高い、半導体装置。
続きを表示(約 1,900 文字)
【請求項2】
前記第2導電部は、
第1側端部と、
前記第1側端部と前記第2半導体領域との間に位置する第2側端部と、
前記第2側端部から連続し、前記第2側端部と前記第1導電部との間に位置するコーナ部と、
を含み、
前記コーナ部は、前記第2導電領域の一部である、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記第2導電部は、
第1側端部と、
前記第1側端部と前記第2半導体領域との間に位置する第2側端部と、
前記第2側端部から連続し、前記第2側端部と前記第1導電部との間に位置するコーナ部と、
を含み、
前記第1方向と前記第2方向とを含む平面における断面において、前記コーナ部と前記半導体部との境界の曲率半径は、1nm以上100nm以下である、請求項1または2に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記第1導電領域の仕事関数は、0.5eV以上4.8eV以下であり、
前記第2導電領域の仕事関数は、4.8eV以上10eV以下である、請求項1または2に記載の半導体装置。
【請求項5】
前記第1導電領域は、第1金属元素を含み、前記第1金属元素は、Al、Mg、Ti、Se、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ru、Ag、In、Sn、Sb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Hf、Ta、W及びBiよりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
前記第2導電領域は、第2金属元素を含み、前記第2金属元素は、Co、Ni、Se、Rh、Pd、Te、Re、Ir、Pt及びAuよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、請求項1または2に記載の半導体装置。
【請求項6】
第1導電部と、
第2導電部であって、前記第1導電部から前記第2導電部への方向は、第1方向に沿う、前記第2導電部と、
第3導電部であって、前記第2導電部から前記第3導電部への方向は、前記第1方向と交差する第2方向に沿う、前記第3導電部と、
前記第2導電部と前記第3導電部との間に設けられた第1絶縁領域を含む第1絶縁部と、
前記第1導電部と前記第2導電部との間に設けられた第1半導体領域と、前記第2導電部と前記第3導電部との間に設けられた第2半導体領域と、を含む、第1導電形の半導体領域と、
を備え、
前記第2導電部は、前記第1半導体領域とショットキー接合する第1導電領域と、前記第2半導体領域とショットキー接合する第2導電領域と、を含み、
前記第1導電領域は、第1金属元素を含み、前記第1金属元素は、Al、Mg、Ti、Se、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ru、Ag、In、Sn、Sb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Hf、Ta、W及びBiよりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
前記第2導電領域は、第2金属元素を含み、前記第2金属元素は、Co、Ni、Se、Rh、Pd、Te、Re、Ir、Pt及びAuよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、半導体装置。
【請求項7】
前記第2導電領域は、前記第1金属元素を含まない、又は、
前記第2導電領域における前記第1金属元素の濃度は、前記第1導電領域における前記第1金属元素の濃度よりも低い、請求項5に記載の半導体装置。
【請求項8】
前記第2導電部は、第3導電領域をさらに含み、
前記第1導電領域から前記第3導電領域への方向は、前記第1方向に沿い、
前記第3導電領域は、前記第2金属元素を含む、請求項5に記載の半導体装置。
【請求項9】
前記第1導電領域は、第1上端部と、前記第1上端部と前記第1導電部との間に設けられた第1下端部と、を含み、
前記第2導電領域は、第2上端部と、前記第2上端部と前記第1導電部との間に設けられた第2下端部と、を含み、
前記第1下端部から前記第2下端部への方向は、前記第2方向に沿う、請求項1または2に記載の半導体装置。
【請求項10】
前記第1導電領域は、前記第1金属元素とシリコンとを含む、請求項5に記載の半導体装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
トランジスタなどの半導体装置において、ボディダイオードの順方向電圧を低減することが望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特許第6400545号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明の実施形態は、ボディダイオードの順方向電圧を低減可能な半導体装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の実施形態によれば、半導体装置は、第1導電部と、第2導電部と、第3導電部と、第1絶縁部と、半導体部と、を含む。前記第1導電部から前記第2導電部への方向は、第1方向に沿う。前記第2導電部から前記第3導電部への方向は、前記第1方向と交差する第2方向に沿う。前記第1絶縁部は、前記第2導電部と前記第3導電部との間に設けられた第1絶縁領域を含む。前記半導体部は、前記第1導電部と前記第2導電部との間に設けられた第1半導体領域と、前記第2導電部と前記第1絶縁領域との間に設けられた第2半導体領域と、を含む。前記半導体部は、第1導電形である。前記第2導電部は、前記第1半導体領域とショットキー接合する第1導電領域と、前記第2半導体領域とショットキー接合する第2導電領域と、を含む。前記第1導電形がn形の場合、前記第1導電領域の仕事関数は、前記第2導電領域の仕事関数よりも低い。前記第1導電形がp形の場合、前記第1導電領域の仕事関数は、前記第2導電領域の仕事関数よりも高い。
【図面の簡単な説明】
【0006】
図1は、実施形態に係る半導体装置を例示する模式的断面図である。
図2(a)及び図2(b)は、実施形態に係る半導体装置を例示する模式的断面図である。
図3(a)~図3(e)は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を例示する模式的断面図である。
図4(a)~図4(e)は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を例示する模式的断面図である。
図5(a)~図5(c)は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を例示する模式的断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0007】
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
【0008】
図1は、実施形態に係る半導体装置を例示する模式的断面図である。
図1に表したように、実施形態に係る半導体装置100は、第1導電部11と、第2導電部12と、第3導電部13と、絶縁部20と、半導体部30と、を含む。半導体装置100は、第4導電部14と、第5導電部15と、をさらに含んでもよい。
【0009】
第1導電部11から第2導電部12へ方向は、第1方向に沿う。第1方向をZ軸方向とする。Z軸方向に対して垂直な1つの方向をX軸方向とする。Z軸方向及びX軸方向に対して垂直な方向をY軸方向とする。
【0010】
第1導電部11から半導体部30への方向は、第1方向に沿う。半導体部30は、第1半導体領域30aと、第2半導体領域30bと、第3半導体領域30cと、第4半導体領域30dと、を含む。半導体部30は、第1導電形(例えばn形)である。なお、この例では、第1導電形がn形で第2導電形がp形であるが、実施形態においては、第1導電形がp形で第2導電形がn形であってもよい。
(【0011】以降は省略されています)
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