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公開番号2024079592
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-06-11
出願番号2023186009
出願日2023-10-30
発明の名称測距システム及びプログラム
出願人株式会社リコー
代理人個人,個人
主分類G01S 7/497 20060101AFI20240604BHJP(測定;試験)
要約【課題】複数の受光部それぞれの出力に基づく距離情報の補正精度に優れた測距システム及びプログラムを提供する。
【解決手段】開示の一態様に係る測距システムは、投射光を投光する投光部と、物体で反射された前記投射光を含む光をそれぞれ受光する複数の受光部と、各々の前記受光部の出力に基づき距離情報を出力する測距処理部と、前記距離情報を補正する補正部と、を備え、前記複数の受光部の各々の前記受光部における前記光の入射範囲は、他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる重複領域を含み、前記複数の受光部の数は、3つ以上であり、3つ以上の前記受光部により、前記重複領域は、少なくとも2つ形成され、前記補正部は、前記複数の受光部の各々の前記受光部の、前記重複領域に対応する受光領域からの出力に基づき、前記距離情報の補正を行う。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
投射光を投光する投光部と、
物体で反射された前記投射光を含む光をそれぞれ受光する複数の受光部と、
各々の前記受光部の出力に基づき距離情報を出力する測距処理部と、
前記距離情報を補正する補正部と、
を備え、
前記複数の受光部の各々の前記受光部における前記光の入射範囲は、他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる重複領域を含み、
前記複数の受光部の数は、３つ以上であり、
３つ以上の前記受光部により、前記重複領域は、少なくとも２つ形成され、
前記補正部は、前記複数の受光部の各々の前記受光部の、前記重複領域に対応する受光領域からの出力に基づき、前記距離情報の補正を行う、測距システム。
続きを表示（約 1,900 文字）【請求項２】
少なくとも２つの前記重複領域は、前記複数の受光部のうちの第１の受光部と第２の受光部により形成される第１の重複領域と、前記複数の受光部のうちの前記第２の受光部と第３の受光部により形成される第２の重複領域と、を含み、
前記補正部は、前記第１の受光部の前記第１の重複領域に対応する受光領域からの第１の出力と、前記第２の受光部の前記第１の重複領域に対応する受光領域からの第２の出力と、前記第２の受光部の前記第２の重複領域に対応する受光領域からの第３の出力と、前記第３の受光部の前記第２の重複領域に対応する受光領域からの第４の出力と、に基づき、前記第１の受光部、前記第２の受光部及び前記第３の受光部からの出力に基づく前記距離情報の補正を行う、請求項１に記載の測距システム。
【請求項３】
前記複数の受光部により、３６０度の画角が形成され、
前記複数の受光部の各々の前記受光部における前記光の入射範囲は、他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる前記重複領域を複数含み、
前記重複領域は、前記複数の受光部の数と同数以上形成され、
前記補正部は、前記複数の受光部のそれぞれの前記重複領域に対応する受光領域からの６つ以上の出力に基づき前記距離情報の補正を行う、請求項１又は請求項２に記載の測距システム。
【請求項４】
前記複数の受光部の少なくとも１つの受光部の温度を測定し温度情報を出力する温度測定部をさらに有する、請求項１に記載の測距システム。
【請求項５】
投射光を投光する投光部と、
物体で反射された前記投射光を含む光をそれぞれ受光する複数の受光部と、
前記複数の受光部の少なくとも１つの受光部の温度を測定し温度情報を出力する温度測定部と、
各々の前記受光部の出力に基づき距離情報を出力する測距処理部と、
前記距離情報を補正する補正部と、
を備え、
前記複数の受光部の各々の前記受光部における前記光の入射範囲は、他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる重複領域を含み、
前記補正部は、前記温度情報と、前記複数の受光部の各々の前記受光部の、前記重複領域に対応する受光領域からの出力と、に基づき前記距離情報の補正を行う、測距システム。
【請求項６】
前記重複領域は、前記複数の受光部のうちの第１の受光部と第２の受光部により形成される第１の重複領域を含み、
前記温度測定部は、前記第１の受光部の温度を測定し、
前記補正部は、前記第１の受光部の前記温度情報と、前記第１の受光部の前記第１の重複領域に対応する受光領域からの第１の出力と、前記第２の受光部の前記第１の重複領域に対応する受光領域からの第２の出力と、に基づき、前記距離情報の補正を行う、請求項４又は請求項５に記載の測距システム。
【請求項７】
前記受光部の温度が所定値以上となった場合に、前記距離情報を補正するための測距を行うよう制御する測距タイミング制御部を更に有する、請求項４又は請求項５に記載の測距システム。
【請求項８】
前記補正部は、前記重複領域に対応する受光領域からの出力と、前記入射範囲の前記重複領域よりも中央側の中央領域に対応する受光領域の出力とに基づき前記距離情報を補正する、請求項１、請求項２、請求項４又は請求項５に記載の測距システム。
【請求項９】
前記重複領域に計測対象物が存在しない場合に通知を行う通知部を更に有する、請求項１、請求項２、請求項４又は請求項５に記載の測距システム。
【請求項１０】
複数の受光部から各々の前記受光部の出力が入力されるステップと、
各々の前記受光部の出力に基づき距離情報を出力するステップと、
前記距離情報を補正するステップと、
を、コンピュータに実行させ、
前記複数の受光部の数は、３つ以上であり、３つ以上の前記受光部により、前記複数の受光部の各々の前記受光部における光の入射範囲が他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる重複領域が、少なくとも２つ形成され、前記受光部の出力が入力されるステップにおいて、各々の前記受光部の出力は、少なくとも、２つの前記重複領域に対応する受光領域からの出力を含み、
前記補正するステップにおいて、前記複数の受光部の各々の前記受光部の、前記重複領域に対応する前記受光領域からの出力に基づき、前記距離情報の補正を行う処理を前記コンピュータに実行させる、プログラム。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、測距システム及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
光を投光してから反射光を受光するまでの時間に基づき物体までの距離を測定するＴｏＦ（Time of Flight）方式の測距システム、測距装置及び測距方法が知られている。
【０００３】
また、複数の第１種デバイスと、複数の第２種デバイスと、を備えた複合入出射装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。この装置では、複数の第２種デバイス等の複数の受光部のそれぞれによる測定範囲が隣接する受光部による測定範囲に重なり合うように、複数の受光部が配置されている。この装置は、複数の受光部の出力に基づき物体を測定した場合の測定範囲に生じるずれを補正する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１の装置では、複数の受光部それぞれの出力に基づく距離の測定範囲等の距離情報の補正精度に改善の余地がある。
【０００５】
開示の技術は、複数の受光部それぞれの出力に基づく距離情報の補正精度に優れた測距システム及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
開示の技術の一態様に係る測距システムは、投射光を投光する投光部と、物体で反射された前記投射光を含む光をそれぞれ受光する複数の受光部と、各々の前記受光部の出力に基づき距離情報を出力する測距処理部と、前記距離情報を補正する補正部と、を備え、前記複数の受光部の各々の前記受光部における前記光の入射範囲は、他の前記受光部の前記光の入射範囲と重なる重複領域を含み、前記複数の受光部の数は、３つ以上であり、３つ以上の前記受光部により、前記重複領域は、少なくとも２つ形成され、前記補正部は、前記複数の受光部の各々の前記受光部の、前記重複領域に対応する受光領域からの出力に基づき、前記距離情報の補正を行う。
【発明の効果】
【０００７】
開示の技術によれば、複数の受光部それぞれの出力に基づく距離情報の補正精度に優れた測距システム及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
図１は、第１実施形態の測距装置の構成の一例を示す図である。
図２は、第１実施形態の測距装置の概略構成の一例を示す図である。
図３は、第１実施形態の光学系の配置の一例を示す図である。
図４は、第１実施形態の測距装置のハードウェア構成の例を示すブロック図である。
図５は、第１実施形態の測距装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
図６は、第１実施形態の測距装置における測距プロセスを説明する図である。
図７は、ＴｏＦセンサの画角と計測対象物の位置関係を示す模式図である。
図８は、ＴｏＦセンサを用いて取得された距離画像の例を示す模式図である。
図９は、第２実施形態の測距装置の機能構成例を示すブロック図である。
図１０は、第３実施形態の測距システムの機能構成例を示すブロック図である。
図１１は、ＴｏＦセンサの画角と計測対象物の位置関係を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。
【００１０】
［第１実施形態］
＜全体構成＞
図１から図３を参照して、第１実施形態の測距システムの一例である撮像装置の構成を説明する。図１は、第１実施形態の撮像装置１００の構成を示す外観斜視図、図２は、撮像装置１００の概略構成の一例を示す図である。図３は、第１実施形態の光学系の配置の一例を示す図である。
（【００１１】以降は省略されています）

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