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公開番号2024068105
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-05-17
出願番号2023140715
出願日2023-08-31
発明の名称欠陥検出方法及び装置
出願人三星電子株式会社,Samsung Electronics Co.,Ltd.
代理人個人,個人,個人
主分類G06T 7/00 20170101AFI20240510BHJP(計算;計数)
要約【課題】本発明の目的は、欠陥検出方法及びそれを行う装置を提供することにある。
【解決手段】一実施形態に係る欠陥検出装置は、命令を含むメモリと、メモリと電気的に接続され、命令を実行するためのプロセッサを含む。プロセッサによって命令が実行されるとき、プロセッサは複数の動作を行うことができる。複数の動作は、入力イメージ(input image)及び基準イメージ(reference image)に基づいて、入力イメージに含まれた欠陥領域(defective area)が強調された強化イメージ(enhanced image)を取得する動作と、ニューラルネットワークに基準イメージ、入力イメージ、及び強化イメージを入力し、入力イメージの欠陥予測スコアを出力する動作を含む。ニューラルネットワークは、アテンションマップの強度を適応的に調整するアテンションマップ変調器を含む。その他にも様々な実施形態が可能である。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
欠陥検出装置であって、
命令を含むメモリと、
前記メモリと電気的に接続され、前記命令を実行するためのプロセッサを含み、
前記プロセッサによって前記命令が実行されるとき、前記プロセッサは複数の動作を行い、
前記複数の動作は、
入力イメージ及び基準イメージに基づいて、前記入力イメージに含まれた欠陥領域が強調された強化イメージを取得する動作と、
ニューラルネットワークに前記基準イメージ、前記入力イメージ、及び前記強化イメージを入力して前記入力イメージの欠陥予測スコアを出力する動作と、
を含み、
前記ニューラルネットワークは、アテンションマップの強度を適応的に調整するアテンションマップ変調器を含む、欠陥検出装置。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記強化イメージは、前記入力イメージ及び前記基準イメージが入力され、欠陥領域が強調されたイメージを出力する強化モジュールから取得される、請求項１に記載の欠陥検出装置。
【請求項３】
前記強化モジュールは、
前記入力イメージ及び前記基準イメージに基づいて差動イメージを取得し、
前記差動イメージに含まれた欠陥領域の強度を調整して前記強化イメージを出力する、請求項２に記載の欠陥検出装置。
【請求項４】
前記ニューラルネットワークは、
前記基準イメージ及び前記入力イメージが入力され、フィーチャーマップを抽出するフィーチャー抽出モジュールと、
前記フィーチャーマップ及び前記強化イメージが入力され、変調されたフィーチャーマップを出力するアテンションモジュールと、
を含む、請求項１～３のうちの何れか一項に記載の欠陥検出装置。
【請求項５】
前記アテンションモジュールは、前記フィーチャーマップに含まれた欠陥に関する値の加重値を高めるように学習されたものである、請求項４に記載の欠陥検出装置。
【請求項６】
前記アテンションモジュールは、
前記強化イメージが入力され、変調されたアテンションマップを出力するアテンションマップ生成器と、
前記変調されたアテンションマップ及び前記フィーチャーマップが入力され、前記変調されたフィーチャーマップを出力するフィーチャー変調器と、
を含む、請求項４に記載の欠陥検出装置。
【請求項７】
前記アテンションマップ生成器は、
前記強化イメージが入力され、アテンションマップを出力する生成モジュールと、
前記アテンションマップが入力され、前記変調されたアテンションマップを出力するアテンションマップ変調器と、
を含み、
前記変調されたアテンションマップは、前記アテンションマップの強度が適応的に調整されているものである、請求項６に記載の欠陥検出装置。
【請求項８】
前記フィーチャー変調器は、前記フィーチャーマップに前記変調されたアテンションマップを適用し、前記変調されたフィーチャーマップを出力する、請求項６に記載の欠陥検出装置。
【請求項９】
前記フィーチャー変調器は、
前記フィーチャーマップの一部に前記変調されたアテンションマップを適用し、
前記変調されたアテンションマップの適用結果と前記一部を除いた前記フィーチャーマップの残りを結合し、前記変調されたフィーチャーマップを出力する、請求項６に記載の欠陥検出装置。
【請求項１０】
前記フィーチャー変調器は、前記フィーチャーマップの少なくとも一部及び前記変調されたアテンションマップに対してエレメントワイズ演算を行う、請求項６に記載の欠陥検出装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は欠陥検出方法及びそれを行う装置に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
製品を生産する産業環境で、製品の不良（例えば、欠陥）を検出することは、信頼性のある製品生産で重要な部分を占めている。製品の不良を検出するために、製品のイメージ（又は、映像）を活用する方法が研究されている。製品又は製造工程を撮影した映像から生産工程及び設備異常がリアルタイムにモニタリングされてもよい。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明の目的は、欠陥検出方法及びそれを行う装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
一実施形態に係る欠陥検出装置は、命令を含むメモリと、前記メモリと電気的に接続され、前記命令を実行するためのプロセッサを含み、前記プロセッサによって前記命令が実行されるとき、前記プロセッサは複数の動作を行うことができる。前記複数の動作は、入力イメージ及び基準イメージに基づいて、前記入力イメージに含まれた欠陥領域が強調された強化イメージを取得する動作と、ニューラルネットワークに前記基準イメージ、前記入力イメージ、及び前記強化イメージを入力して前記入力イメージの欠陥予測スコアを出力する動作とを含む。前記ニューラルネットワークは、アテンションマップの強度を適応的に調整するアテンションマップ変調器を含むことができる。
【０００５】
前記強化イメージは、前記入力イメージ及び前記基準イメージが入力され、欠陥領域が強調されたイメージを出力する強化モジュールから取得されることができる。
【０００６】
前記強化モジュールは、前記入力イメージ及び前記基準イメージに基づいて差動イメージを取得することができる。前記強化モジュールは、前記差動イメージに含まれた欠陥領域の強度を調整して前記強化イメージを出力することができる。
【０００７】
前記ニューラルネットワークは、前記基準イメージ及び前記入力イメージが入力され、フィーチャーマップを抽出するフィーチャー抽出モジュールと、前記フィーチャーマップ及び前記強化イメージが入力され、変調されたフィーチャーマップを出力するアテンションモジュールとを含むことが出k理宇。
【０００８】
前記アテンションモジュールは、前記フィーチャーマップに含まれた欠陥に関する値の加重値を高めるように学習されたものである。
【０００９】
前記アテンションモジュールは、前記強化イメージが入力され、変調されたアテンションマップを出力するアテンションマップ生成器と、前記変調されたアテンションマップ及び前記フィーチャーマップが入力され、前記変調されたフィーチャーマップを出力するフィーチャー変調器とを含むことができる。
【００１０】
前記アテンションマップ生成器は、前記強化イメージが入力され、アテンションマップを出力する生成モジュールと、前記アテンションマップが入力され、前記変調されたアテンションマップを出力するアテンションマップ変調器とを含むことができる。前記変調されたアテンションマップは、前記アテンションマップの強度が適応的に調整されているものである。
（【００１１】以降は省略されています）

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