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公開番号2024046154
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-03
出願番号2022151376
出願日2022-09-22
発明の名称磁気ディスク装置
出願人株式会社東芝,東芝デバイス&ストレージ株式会社
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G11B 5/596 20060101AFI20240327BHJP(情報記憶)
要約【課題】性能が高い磁気ディスク装置を提供すること。
【解決手段】磁気ディスク装置のコントローラは、コントローラは、ひとつの第1位置セットに含まれる半径方向の複数の位置における補正量を用いて磁気ディスクの回転に同期した外乱を補正した場合の残留誤差に対応する第1値の半径方向の分布である第1分布を、複数の第1位置セットのそれぞれについて取得する。コントローラは、第1分布に対して半径方向の位置に応じた重み付けをし、重み付けされた第1分布に基づいて評価値を算出する動作を、複数の第1位置セットのそれぞれについて実行する。コントローラは、複数の第1位置セットのそれぞれについて算出した評価値に基づいて複数の第1位置セットのうちから第2位置セットを選択する。コントローラは、第2位置セットに含まれる複数の位置における補正量を磁気ヘッドによって第1サーボセクタに記録する。
【選択図】図10
特許請求の範囲【請求項1】
第1サーボセクタが設けられたトラックを有する磁気ディスクと、
前記磁気ディスクに対してデータをライトし、前記磁気ディスクからデータをリードする磁気ヘッドと、
それぞれは前記トラック上の半径方向における複数の位置からなるセットである複数の第1位置セットを設定し、
前記複数の第1位置セットのうちのひとつに含まれる複数の位置における補正量を用いて前記磁気ディスクの回転に同期した外乱を補正した場合の残留誤差に対応する第1値の半径方向の分布である第1分布を、前記複数の第1位置セットのそれぞれについて取得し、
前記第1分布に対して半径方向の位置に応じた重み付けをし、重み付けされた前記第1分布に基づいて評価値を算出する動作を、前記複数の第1位置セットのそれぞれについて実行し、
前記複数の第1位置セットのそれぞれについて算出した前記評価値に基づいて前記複数の第1位置セットのうちから第2位置セットを選択し、
前記第2位置セットに含まれる複数の位置における補正量を前記磁気ヘッドによって前記第1サーボセクタに記録する、
コントローラと、
を備える磁気ディスク装置。
続きを表示(約 1,100 文字)【請求項2】
前記コントローラは、前記外乱を補正しながら前記磁気ヘッドの目標軌道と前記磁気ヘッドの実位置との差分を検出し、
前記第1値は前記差分である、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。
【請求項3】
前記コントローラは、前記外乱を補正しながら前記磁気ヘッドの目標軌道と前記磁気ヘッドの実位置との差分を半径方向における複数の位置のそれぞれにおいて複数回、検出し、
前記第1値は複数回検出した前記差分の標準偏差値または平均値である、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。
【請求項4】
前記コントローラは、
前記外乱を補正しないで前記磁気ヘッドの目標軌道と前記磁気ヘッドの実位置との差分を検出し、前記差分を前記磁気ヘッドの位置決め制御の感度特性で割ることによって前記外乱の推定値を取得し、前記外乱の推定値の半径方向の分布である第2分布を取得し、
ひとつの第1位置セットに含まれる複数の位置における補正量を前記分布から取得し、前記複数の位置における補正量に基づいて半径方向の補正量の変化を推定し、
前記第1分布は、前記補正量の変化と前記第2分布との差分である、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。
【請求項5】
前記トラックに対するライトが許可された前記トラックのセンタを含む半径方向の範囲であるライト許可範囲が設定され、
前記コントローラは、前記ライト許可範囲の端部において最大の重みで重み付けを行う、
請求項1から請求項4の何れか一項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項6】
前記コントローラは、前記端部に加えて前記トラックのセンタおいても最大の重みで重み付けを行う、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。
【請求項7】
前記コントローラは、前記トラックのセンタと前記ライト許可範囲の端部との間の所定位置において最小の重みで重み付けを行う、
請求項6に記載の磁気ディスク装置。
【請求項8】
前記コントローラは、前記トラックのセンタにおいて最小の重みで重み付けを行う、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。
【請求項9】
前記コントローラは、前記トラックのセンタを含む、前記ライト許可範囲よりも狭い範囲において最小の重みで重み付けを行う、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。
【請求項10】
前記磁気ディスクは、複数の単位領域に分割され、
前記コントローラは、前記第1分布に対する重み付けを、重み関数を用いて実行し、使用する重み関数が単位領域毎に個別に設定される、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本実施形態は、磁気ディスク装置に関する。
続きを表示(約 2,000 文字)【背景技術】
【0002】
従来、磁気ディスク装置において磁気ディスクへのアクセスの際にうける外乱として、RRO(Repeatable RunOut)が知られている。RROとは、バーストパターンによって定義されるトラックの軌道が理想的なトラックの軌道からずれていることによる外乱であり、磁気ディスク(およびスピンドルモータ)の回転に同期して変動する。
【0003】
磁気ディスク装置の製造工程では、RROによる位置ずれを補正する補正量が学習され、得られた補正量が磁気ディスクに記録される。磁気ディスク装置が使用される際には、磁気ディスクに記録された補正量を用いて磁気ヘッドの位置の補正が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
米国特許第10854238号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
一つの実施形態は、性能が高い磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
一つの実施形態によれば、磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、磁気ヘッドと、コントローラと、を備える。磁気ディスクは、第1サーボセクタが設けられたトラックを有する。磁気ヘッドは、磁気ディスクに対してデータをライトし、磁気ディスクからデータをリードする。コントローラは、複数の第1位置セットを設定する。複数の第1位置セットのそれぞれは、トラック上の半径方向における複数の位置からなるセットである。コントローラは、複数の第1位置セットのうちのひとつの第1位置セットに含まれる複数の位置における補正量を用いて磁気ディスクの回転に同期した外乱を補正した場合の残留誤差に対応する第1値の半径方向の分布である第1分布を、複数の第1位置セットのそれぞれについて取得する。コントローラは、第1分布に対して半径方向の位置に応じた重み付けをし、重み付けされた第1分布に基づいて評価値を算出する動作を、複数の第1位置セットのそれぞれについて実行する。コントローラは、複数の第1位置セットのそれぞれについて算出した評価値に基づいて複数の第1位置セットのうちから第2位置セットを選択する。コントローラは、第2位置セットに含まれる複数の位置における補正量を磁気ヘッドによって第1サーボセクタに記録する。
【図面の簡単な説明】
【0007】
図1は、第1の実施形態の磁気ディスク装置の構成の一例を示す模式的な図である。
図2は、第1の実施形態の磁気ディスクの構成の一例を示す模式的な図である。
図3は、第1の実施形態のRRO bitの格納位置の一例を示す図である。
図4は、第1の実施形態のリニアRRO補正機能を説明するためのグラフである。
図5は、第1の実施形態の重み関数の一例を説明するための図である。
図6は、第1の実施形態の重み関数の別の一例を説明するための図である。
図7は、第1の実施形態の重み関数のさらに別の一例を説明するための図である。
図8は、単位領域毎に重み関数を設定する第1の実施形態の手順の一例を示すフローチャートである。
図9は、第1の実施形態ののデータ構成の一例を示す図である。
図10は、RRO bitを磁気ディスクに記録する第1の実施形態の動作の一例を示すフローチャートである。
図11は、第1の実施形態のS208~S210の処理の具体例を説明するための図である。
図12は、第1の実施形態のS210の処理によって得られたRPE3σをプロットしたグラフである。
図13は、RRO bitを磁気ディスクに記録する第2の実施形態の動作の一例を示すフローチャートである。
図14は、第2の実施形態のS303~S307の処理の具体例を説明するための図である。
図15は、第2の実施形態のS307の処理によって取得した残留誤差をプロットしたグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる磁気ディスク装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【0009】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる製造方法を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【0010】
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態の磁気ディスク装置1の構成の一例を示す模式的な図である。
(【0011】以降は省略されています)

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