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公開番号2024044661
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-02
出願番号2022150323
出願日2022-09-21
発明の名称汚損判定システム
出願人大和ハウス工業株式会社
代理人個人,個人
主分類G01N 17/00 20060101AFI20240326BHJP(測定;試験)
要約【課題】太陽光機器の汚損の発生を好適に判定することができる汚損判定システムを提供する。
【解決手段】太陽光を利用してエネルギーを得る太陽光機器(太陽光発電パネル2)の汚損の発生を判定可能な汚損判定システム1であって、学習期間において計測された太陽光機器に関する学習用データに基づいて予測モデルを作成する予測モデル作成部と、予測モデルを用いて、学習期間の経過後の判定期間において計測された太陽光機器に関する判定用データに基づいて、判定期間における前記太陽光機器のエネルギー量(発電量)の推定値を算出する推定値算出部と、判定期間において計測された太陽光機器のエネルギー量の実測値と、推定値と、に基づいて誤差に関する情報を算出可能な誤差算出部と、誤差に関する情報が所定の閾値を超えた判定期間の連続した回数に基づいて太陽光機器の汚損の発生の検出を行う検出部と、を具備する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
太陽光を利用してエネルギーを得る太陽光機器の汚損の発生を判定可能な汚損判定システムであって、
学習期間において計測された前記太陽光機器に関する学習用データに基づいて予測モデルを作成する予測モデル作成部と、
前記予測モデルを用いて、前記学習期間の経過後の判定期間において計測された前記太陽光機器に関する判定用データに基づいて、前記判定期間における前記太陽光機器のエネルギー量の推定値を算出する推定値算出部と、
前記判定期間において計測された前記太陽光機器のエネルギー量の実測値と、前記推定値と、に基づいて誤差に関する情報を算出可能な誤差算出部と、
前記誤差に関する情報が所定の閾値を超えた判定期間の連続した回数に基づいて前記太陽光機器の汚損の発生の検出を行う検出部と、
を具備する、
汚損判定システム。
続きを表示（約 470 文字）【請求項２】
前記学習期間は、
前記太陽光機器の稼動開始直後から、所定期間が経過するまでの期間である、
請求項１に記載の汚損判定システム。
【請求項３】
前記太陽光機器は、太陽光を利用して発電可能な太陽光発電機器であり、
前記エネルギー量は、発電量である、
請求項１に記載の汚損判定システム。
【請求項４】
前記太陽光機器は、太陽熱を収集可能な太陽熱収集機器であり、
前記エネルギー量は、熱量である、
請求項１に記載の汚損判定システム。
【請求項５】
前記検出部は、
前記閾値及び前記回数が設定された複数の条件を用いて、前記太陽光機器の汚損の発生の検出を行い、
複数の前記条件は、
設定された複数の前記閾値及び複数の前記回数がそれぞれ異なり、かつ、前記閾値の絶対値が大きくなるにつれて、前記回数が少なくなるように設定されている、
請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の汚損判定システム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、太陽光を利用する機器の汚損の発生の判定を行うシステムの技術に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、太陽光パネル等、太陽光を利用する機器の状態を判定する技術が公知となっている。例えば、特許文献１に記載の如くである。
【０００３】
特許文献１には、太陽光発電システムの発電量等のデータを用いて、不具合による発電量の低下の発生を判定可能なシステムが記載されている。特許文献１に記載のシステムにおいては、発電量等のデータを学習させることで推定パラメータを作成し、ある日において、推定パラメータにより推定された推定発電量と、太陽光発電システムの実測発電量と、の差に基づく値が閾値以上である場合に、発電量の低下が発生したと判定する。
【０００４】
ここで、太陽光パネル等は屋外に設置されるため、時間が経過するにつれて徐々に表面に汚れが蓄積し、太陽光パネル等の汚損が発生することが想定される。このような場合、汚れの蓄積に伴い太陽光パネルの発電量が徐々に低下するおそれがある。そこで、太陽光パネル等の状態に基づいて、汚損の発生を判定可能なシステムが求められる。
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１に記載された発明は、判定当日の情報のみに基づいて判定を行うため、所定の期間（例えば数日）が経過するにつれて徐々に蓄積するような汚損の発生の判定には適用し難い。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特許第６６０８６１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は以上の如き状況に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、太陽光機器の汚損の発生を好適に判定することができる汚損判定システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
【０００９】
即ち、請求項１においては、太陽光を利用してエネルギーを得る太陽光機器の汚損の発生を判定可能な汚損判定システムであって、学習期間において計測された前記太陽光機器に関する学習用データに基づいて予測モデルを作成する予測モデル作成部と、前記予測モデルを用いて、前記学習期間の経過後の判定期間において計測された前記太陽光機器に関する判定用データに基づいて、前記判定期間における前記太陽光機器のエネルギー量の推定値を算出する推定値算出部と、前記判定期間において計測された前記太陽光機器のエネルギー量の実測値と、前記推定値と、に基づいて誤差に関する情報を算出可能な誤差算出部と、前記誤差に関する情報が所定の閾値を超えた判定期間の連続した回数に基づいて前記太陽光機器の汚損の発生の検出を行う検出部と、を具備するものである。
【００１０】
請求項２においては、前記学習期間は、前記太陽光機器の稼動開始直後から、所定期間が経過するまでの期間であるものである。
（【００１１】以降は省略されています）

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