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発行日2025-11-17
公報種別意匠公報(S)
登録番号1812862
登録日2025-11-07
意匠に係る物品プローブ
意匠分類J1-93(計量器、測定機械器具及び測量機械器具)
出願番号2024021274,113303975
出願日2024-10-11
意匠権者メソスコープ テクノロジー カンパニー リミテッド,MESOSCOPE TECHNOLOGY CO., LTD.
代理人弁理士法人エビス国際特許事務所
意匠に係る物品の説明本願意匠に物品(以下「本物品」という。)は、電子部品である半導体ウェハ、半導体チップ及び半導体素子などの検査、回路基板上の導通の有無や抵抗値などの電気的特性の測定などに用いるプローブである。
意匠の説明〔背面図〕は〔正面図〕と同一に表れるため省略する。実線で表した部分が意匠登録を受けようとする部分である。各図の表面部全面に表された細線は、立体表面の形状を表すためのものである。一点鎖線は、意匠登録を受けようとする部分とその他の部分との境界のみを表すものである。〔参考斜視図〕及び〔参考正面図〕における二点鎖線にて囲まれる各範囲は、両図における拡大して表す部分を示すものであり、拡大部分の境界のみを表すものである。〔参考斜視図A部分拡大図〕〔参考斜視図B部分拡大図〕〔参考斜視図C部分拡大図〕及び〔参考斜視図D部分拡大図〕は、〔参考斜視図〕にて二点鎖線に囲まれた各範囲の部分拡大図である。〔参考正面図E部分拡大図〕〔参考正面図F部分拡大図〕〔参考正面図G部分拡大図〕及び〔参考正面図H部分拡大図〕は、〔参考正面図〕にて二点鎖線に囲まれた各範囲の部分拡大図である。
この意匠をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

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